GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器
| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分钟） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移（24小时） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 0 GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 |
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| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分钟） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移（24小时） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 |
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GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器
| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分钟） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移（24小时） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 |
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